Микроскоп SPM-9500J2 сканирует образец микроскопическим зондом для получения трехмерного изображения.
Топографическая карта поверхности с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз может быть получена для нативных образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов без какой-либо их предварительной подготовки.
SPM-9500J2 позволяет проводить измерения методами атомно-силовой (AFM), латерально-силовой (LFM) или сканирующей туннельной микроскопии (STM).
