Измеритель электропроводности ИЭ-1 предназначен для измерения удельной электропроводности изделий из электропроводящих неферромагнитных материалов. Минимальная толщина контролируемого изделия Т, мм, вычисляется по формуле: Т=503/(V(20000*Е)), где Е - удельная электропроводность материала, МСм/м; в пределах диапазона измерения величина Т имеет значения от 0,47 до 1,63 мм.
